应用总结电子元器件失效分析详解演示文稿.pptVIP

   进行电子元器件的功能测试，需对元器件输入一个已知的激励信号，测量输出结果。如测得的输出状态与预计状态相同，则元器件功能正常，否则为失效。功能测试主要用于集成电路。简单的集成电路的功能测试需要电源、信号源和示波器，复杂的集成电路测试需自动测试设备(ATE)和复杂的测试程序。 同一个元器件，上述三种失效有一定的相关性。即一种失效可能引起其他种类的失效。 失