离子束溅射生长Ge纳米点的开题报告.docxVIP

离子束溅射生长Ge纳米点的开题报告.docx

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离子束溅射生长Ge纳米点的开题报告 摘要: Ge纳米点是一种具有优异光电特性的材料,可以应用于光电器件和量子点领域。离子束溅射(IBS)是一种高效的纳米结构材料制备技术,其制备过程不需要高温或者化学反应,因此很适合制备纳米材料。本文拟研究利用IBS技术制备Ge纳米点及其生长过程及控制过程。 关键词:离子束溅射、Ge纳米点、生长过程 一、研究背景和意义 Ge纳米点作为一种半导体材料,是近年来发展非常迅速的研究领域之一。Ge纳米点具有许多优异的光电学性质,例如强的吸收和发射量子效应,有望应用于光电器件、传感器、信息存储及显示等领域。因此,研究Ge纳米点的制备和性质对推动纳米技术的发展具有重要的实际意义。 离子束溅射是一种高效的纳米结构材料制备技术,对制备纳米粒子、纳米结构具有非常优异的性能。利用离子束溅射技术制备Ge纳米点可以避免高温或者化学反应的影响,因此很适合制备纳米材料。 二、研究目的和方案 1.研究利用离子束溅射技术制备Ge纳米点及其生长过程的特性。 2.研究控制Ge纳米点尺寸和形态的方法及其制备条件的优化。 3.研究Ge纳米点的光电性质,包括发光峰、量子效率等。 研究方案: 1.采用离子束溅射技术制备Ge薄膜,并采用剪切反应器生长Ge纳米点。 2.优化制备条件,探究控制Ge纳米点尺寸和形态的方法。 3.使用荧光光谱等方法表征Ge纳米点的光电性质。 三、研究内容和方法 1. 制备Ge纳米点 采用离子束溅射技术制备Ge薄膜,并采用剪切反应器生长Ge纳米点。调节剪切反应器的反应温度、反应时间、反应气压、气氛气体比例等参数,探究制备过程的影响规律。 2. 表征Ge纳米点 使用扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)等技术表征Ge纳米点的形貌、大小及分布等性质。使用荧光光谱等方法表征Ge纳米点的光电性质。 3. 优化制备条件 通过调整剪切反应器的反应温度、反应时间、反应气压、气氛气体比例等参数,探究控制Ge纳米点尺寸和形态的方法。通过优化制备条件,得到大小和形态均匀的Ge纳米点。 四、预期成果和意义 1.研究利用离子束溅射技术制备Ge纳米点的生长规律和特性。 2.探究控制Ge纳米点尺寸和形态的方法。 3.表征Ge纳米点的光电性质,对其在光电器件、传感器、信息存储及显示等领域的应用具有重要意义。 4.提供了一种简单、高效的制备Ge纳米点的方法和条件,有望为纳米材料的制备和应用提供有效的参考。 参考文献: [1] 陶锡斌,高现安,王革峰,等. 应变诱导自组装法制备金属纳米线[J]. 低温物理学报,2004,26(4): 329-332. [2] 何本青,张瑞卿,张世岿,等. PtGd纳米合金颗粒制备及其催化性能研究[J]. 中国稀土学报,2007,25(1):17-20. [3] 周晓,杜佳敏,周旻,等. 利用离子束溅射技术制备纳米结构材料[J]. 中国材料科学与工程,2010,38(1):9-14.

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