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本发明适用于芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片、测试机台、芯片参数的校准系统、方法及相关设备。本发明提出了一种能够消除模拟量传输误差、并缩短测试时间的芯片参数校准方法、及对应的芯片及测试机台，本发明基于芯片及测试机台在参数校准过程中使得芯片内调整后的模拟量能够直接反馈到参数上，减少了芯片外部的模拟量传输，并且，基于不同的寄存器，本发明还可以对多个参数进行同时校准，减少重复校准的时间，提高了参数校准的效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116598218 A
(43)申请公布日 2023.08.15
(21)申请号 202310874861.1
(22)申请日 2023.07.17
(71)申请人 深圳市思远半导体有限公司
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