一种存储测试设备及其测试方法.pdfVIP

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2023-08-19 发布于北京
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本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，用于获取存储器的功耗转换时长，其中存储器中存储预设数据，存储测试设备包括：掉上电模块，在存储器的高功耗状态结束时，延迟初始功耗转换时长后，掉上电模块将存储器断电并重新上电；数据输入模块，数据输入模块中存储初始基准时间和初始时间步长；基准时间训练模块，基准时间训练模块接收并调整初始基准时间，直到掉电前预设数据和掉电后预设数据不同，获得标定基准时间；以及时间步长获取模块，时间步长获取模块获取标定基准时间和初始时间步长，并调整初始时间步长，直到掉电前预设数据和

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116610512 A (43)申请公布日 2023.08.18 (21)申请号 202310889908.1 (22)申请日 2023.07.20 (71)申请人合肥康芯威存储技术有限公司地址