智能识别非易失存储介质不可靠块的方法与装置.pdfVIP

智能识别非易失存储介质不可靠块的方法与装置.pdf

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本申请涉及存储技术领域,尤其涉及智能识别不可靠块的方法,包括:根据处理编程命令的时间与编程命令所操作的块的擦写次数,查询寿命预测表获得寿命预测值;若寿命预测值达到或超过寿命阈值,则将编程命令所操作的块识别为坏块,并将坏块的标识记录于坏块表中;以及将识别出的坏块上已被写入的数据搬移到其他块。本申请有效的识别或预测存储介质的块的寿命将尽,以避免向寿命将尽的块写入数据,从而减少因擦除操作、编程操作或读操作失败而对存储设备的影响。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116661694 A (43)申请公布日 2023.08.29 (21)申请号 202310644632.0 (22)申请日 2019.06.14 (62)分案原申请数据 201910514471.7

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