基于malab的软正交矢量型lia相关器的实现.docxVIP

基于malab的软正交矢量型lia相关器的实现 用磁体损伤检测方法检测薄膜缺陷时，应通过磁体测量表面的磁体噪声信息，并获得信号的振幅值和相位值。然而，磁体接收的信号非常微弱，存在严重的干扰噪声，与激励信号的频率相同，并且对小误差而言，信号幅度值和相位值的变化很小。考虑到检测信号的频率和激励信号的频率相同，采用正交向量l-lia相关器的软件实施方法，有效抑制干扰，正确获得检测线圈的振幅值和相位值。 1 rsy0stt1r3.2ry0stdtt1.2.2ry0stdta计算 设被测信号为: s(t)=x(t)+N(t)=Asin(ωt+θ+φ)+N(t) 其中:x(t)为有用信号,N(t)为噪声信号;参考信号y(t)=Bsin(ωt+θ),y′(t)=Bcos(ωt+θ),y(t)和y′(t)相位差为90°。 Rsy(0)=1Τ∫Τ0s(t)y(t)dt=12ABcos(φ)(1)Ryy(0)=1Τ∫Τ0y(t)y(t)dt=12B2(2)Rsy′(0)=1Τ∫Τ0s(t)y′(t)dt=12ABsin(φ)(3)Rsy(0)=1T∫T0s(t)y(t)dt=12ABcos(φ)(1)Ryy(0)=1T∫T0y(t)y(t)dt=12B2(2)Rsy′(0)=1T∫T0s(t)y′(t)dt=12ABsin(φ)(3) 求解式(1),式(2)和式(3)可以得到: B=√2Ryy(0)(4)φ=arctanRsy′(0)Rsy(0)(5)A=2Rsy(0)Bcos(φ)(6)B=2Ryy(0)???????√(4)φ=arctanRsy′(0)Rsy(0)(5)A=2Rsy(0)Bcos(φ)(6) 2 软正交lia的实现 2.1 a/d采集卡采样 实现框图如图1所示。 由检测线圈感应出来的信号比较微弱、干扰多,通过信号调理电路进入A/D采集卡的1通道,参考信号进入采集卡的通道2,由计算机控制对两路信号进行采样。 2.2 matlab仿真 要实现移相通常的途径有: (1)直接对模拟信号进行移相,如阻容移相、变压器移相等,而采用这种移相器有许多的不足之处,输出波形易受输入波形的影响,移相操作不方便,移相角度随时间和负载等因素的影响而产生漂移,误差较大。 (2)利用单片机技术形成的数字移相技术,即利用单片机通过2片D/A转换芯片,连续循环地读取存储在ROM中的正弦波数字化的数据表,获得两路正弦信号;相位差由读取数据表的位置不同而不同,但这需要很多芯片和设计硬件电路。 本文采取了软件移相,其算法如下: 已知参考信号3个连续采样值为ik-1,ik,ik+1,信号角频率为ω,采样周期为Ts,要得到滞后ik采样值α角度的值ik(-α)。 ik=Imsin(ωt+θ) (7) ik(-α)=Imsin(ωt+θ-α) =Imcos(-α)sin(ωt+θ)+ Imsin(-α)cos(ωt+θ) (8) 由式(7)得: dikdt=ωΙmcos(ωt+θ)=(ik+1-ik-1)/2Τs(9)dikdt=ωImcos(ωt+θ)=(ik+1?ik?1)/2Ts(9) 由式(9)得: cos(ωt+θ)=1ωΙm?ik+1-ik-12Τs(10)cos(ωt+θ)=1ωIm?ik+1?ik?12Ts(10) 将式(10)代入式(8)中得: ik(-α)=Ιmcos(-α)sin(ωt+θ)+Ιmsin(-α)1ωΙm?ik+1-ik-12Τs=cos(-α)ik+sin(-α)2ωΤs(ik+1-ik-1)ik(?α)=Imcos(?α)sin(ωt+θ)+Imsin(?α)1ωIm?ik+1?ik?12Ts=cos(?α)ik+sin(?α)2ωTs(ik+1?ik?1) =Aik+B(ik+1-ik-1) (11) 其中:A=cos(-α)?B=sin(-α)2ωΤs 由于推导中采用了dikdt=ωΙmcos(ωt+θ)=ik+1-ik-12Τs,当采样频率较低,如每周期的采样频率M=12,信号角频率ω=100 π时,微分和差分有一定误差,所以B可根据实际该误差的大小进行修正,补偿该误差。 根据Matlab的仿真后,只要采样频率M≥50的时候,计算移相90°的参考序列时,其误差小于0.5%,B值可以不用调整。所以在实际应用中应该提高采样频率。 2.3 路参考信号序列 通过A/D采集,得到检测信号序列s(k)和参考信号序列y(k),通过软件移相算法对参考序列y(k)进行移相,得到与y(k)正交的另外一路参考信号序列y′(k);Rsy(0),Ry(0)和Rsy′(0)可以通过采样序列经过下面的公式得到(N为采样点数): Rsy(0)=1ΝΝ∑k=1s(k)y(k)(12)Ryy(0)=1ΝΝ∑k=1s(k)y(k)(