一种光电成像系统性能评估实验分析方法.docVIP

（19）中华人民共和国国家知识产权局 （12）发明专利说明书 （10）申请公布号 CN102567608B（43）申请公布日 2015.04.08 （21）申请号 CN201010610980.9 （22）申请日 2010.12.29 （71）申请人 中国科学院沈阳自动化研究所 地址 110016 辽宁省沈阳市东陵区南塔街114号 （72）发明人 赵怀慈;刘海峥;郝明国;花海洋;王立勇 （74）专利代理机构 沈阳科苑专利商标代理有限公司 代理人 李晓光 （51）Int.CI 权利要求说明书 说明书 幅图 （54）发明名称 一种光电成像系统性能评估实验分析方法 （57）摘要 本发明涉及一种光电成像系统性能评估实验分析方法，包括以下步骤：建立光电成像系统性能预测模型；在性能预测模型中划分输入因素集和输出指标集；对输入因素集进行筛选实验；根据筛选实验结果划分模型输入因素水平，建立模型输入因素水平表；根据模型输入因素水平表，选取正交表，形成实验方案；调用性能预测模型计算各实验方案对应的输出指标集；利用输出指标集进行极差分析和灵敏度分析，结束本次实验分析过程。本发明方法可以以最少的实验次数全面、典型、均衡可比的反映实验输入各因素对实验指标的影响，通过极差法分析确定各输入因素的最优水平和对输出指标的影响的主次关系，同时采用灵敏度分析法分析输入因素对输出指标的敏感程度。 法律状态