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本发明公开了一种DSP芯片测试装置及方法，针对目前DSP芯片测试方法中存在的测试效率低和测试过程繁琐的问题，提供了一种DSP芯片自动化测试实现装置。基于此装置，可以实现在DSP芯片上电的一次测试中随时改变测试参数和测试指令。与目前常用的DSP芯片测试方法相比，DSP芯片测试装置在完成基本DSP芯片测试功能的基础上，增加了FPGA与服务器的数据传输通道，使测试工作与各项参数的配置更加灵活。通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112014726 A
(43)申请公布日 2020.12.01
(21)申请号 202010781047.1
(22)申请日 2020.08.05
(71)申请人 广东省新一代通信与网络创新研究
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