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本申请提供一种测试电路、测试方法及显示装置，其测试电路包括一一对应的多条栅极控制线和多条测试信号走线，每条栅极控制线用于：控制对应测试信号走线向被测像素元件中的对应子像素写入测试信号；输入控制单元，包括与每个子像素一一对应的多个第一开关元件，所述多个第一开关元件的控制端耦接一预设控制线，输入端一一对应地耦接多条栅极控制线，输出端耦接一信号接收端，本申请无需使每个栅极控制线引出并与柔性电路板耦接，仅需耦接面板上的信号接收端即可，从而有利于窄边框设计。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114993621 A
(43)申请公布日 2022.09.02
(21)申请号 202210590786.1
(22)申请日 2022.05.27
(71)申请人 惠科股份有限公司
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