一种基于ATE的SOC芯片测试方法.docxVIP

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2023-09-14 发布于广东
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一种基于ATE的SOC芯片测试方法.docx

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利说明书 (10)申请公布号 CN 113341296 A(43)申请公布日 2021.09.03 (21)申请号 CN202110532131.4 (22)申请日 2021.05.17 (71)申请人上海科海华泰船舶电气有限公司地址 201601 上海市松江区泗泾镇九干路289号 (72)发明人高杨 (74)专利代理机构 31306 上海愉腾专利代理事务所(普通合伙) 代理人唐海波 (51)Int.CI G01R31/28 权利要求说明书说明书幅图 (54)发明名称一种基于ATE的SOC芯片测试方法 (57)摘要本发明公开了一种基于ATE的SOC芯片测试方法，包括以下步骤：设计接口完成ATE平台和SOC芯片的连接；基于ATE平台进行SOC芯片LVDS的输入和输出测试；基于ATE平台进行SOC芯片ADC和DAC的动态测试。具有速率高，抗干扰能力强优点。同时又兼有集成度高，量产成本低等优点，可分析混合芯片测试所需的基于DSP的相干采样原理，以及不相干采样对测试结果的影响。法律状态法律状态公告日法律状态信息法律状态 2021-09-21 实质审查的生效实质审查的生效 2021-09-03 公开公开 2022-12-27 授权发明专利权授予 2023-03-10 专利权质押合同登记的生效IPC(主分类):G01R31/28专利号:ZL2021105321314登记号:Y2023310000039登记生效日质人:上海科海华泰船舶电气有限公司质权人:上海农村商业银行股份有限公司松江支行发明名称:一种基于ATE的SOC芯片测试方法申请日权公告日专利权质押合同登记的生效、变更及注销权利要求说明书【一种基于ATE的SOC芯片测试方法】的权利说明书内容是......请下载后查看说明书【一种基于ATE的SOC芯片测试方法】的说明书内容是......请下载后查看