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一种半导体测试平台上负载测试基板锁紧装置.pdfVIP

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  • 2023-09-17 发布于四川
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一种半导体测试平台上负载测试基板锁紧装置.pdf

    本实用新型公开一种半导体测试平台上负载测试基板锁紧装置；包括一块主锁紧板和若干个副锁紧板；并且所述的主锁紧板和副锁紧板的内侧均设置有一块凸板；该所述的凸板从主锁紧板和副锁紧板的下端向上凹陷设置，而主锁紧板和副锁紧板的上端均向上凸起，在主锁紧板和副锁紧板的内侧构成整体凸板。本实用新型可以有效的保护测试基板，防止其被测试针划伤以及外力拉扯可能造成基板损坏的情况。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210436013 U (45)授权公告日 2020.05.01 (21)申请号 20192

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