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本发明公开了一种存储器的擦除修复方法、系统、装置及存储介质。该存储器包括记录存储区和非易失性存储区，非易失性存储区包括受干扰区域，记录存储区包括第一地址集，第一地址集用于表征经过对所述非易失性存储区进行多次擦除修复测试后得到的地址集，第一地址集还用于表征在使用期间，对存储器进行擦除操作后需要进行修复的存储单元对应的存储地址，该方法包括：将所述受干扰区域划分为若干小块区域；对所述存储器进行擦除操作后，检测并修复第一小块，修复所述第一地址集中记录的每个存储地址对应的存储单元；所述若干小块区域包括所述
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116798493 A
(43)申请公布日 2023.09.22
(21)申请号 202310611207.1
(22)申请日 2023.05.24
(71)申请人 合肥博雅半导体有限公司
地址 2
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