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kaf4001eccd的低温成像特性测试与研究 1 低温成像特性的测试与评估 自冷战结束以来，sd已经在30年的时间里开发出来。sd工具已成为广阔的成像领域的主要测量机。例如，军事和科学应用等。在科学成像应用中,特别是在对极暗弱目标观测(如夜间天文观测)的成像系统中,对CCD器件的一些指标要求极其严格,如量子效率(QE)、电荷转移效率(CTE)、噪声、暗电流(暗流)、线性、满阱等。正是因为科学成像应用对CCD器件的指标要求很高,使得科学级CCD的成品率不高,从而使其价格一直都很昂贵。因此,在进行科学成像系统的设计前,必须对所用CCD的关键指标进行实验测试和评估。 KAF_4301E CCD是近两年Kodak公司生产的一种用于0.4μm 到1.1μm 波长范围内成像应用的高性能、大面阵(2084×2084pixel,24μm×24μm)硅CCD器件。由于采用了蓝端增强透明电极、真正两相技术的正面照光全帧结构,其光谱响应,或者说量子效率(QE),与普通正面照光CCD相比,大为提高,即使与背面照光CCD相比,差别也不太大,而其价格却比背面照光CCD低得多。 因此,一些天文学家希望能将这种CCD用于天文光谱成像系统中。但迄今为此,还未见到这种CCD用于天文光谱仪成像系统方面的报道,也没有相关低温成像特性的实验研究报告。在KAF_4301E的说明书中,虽然CCD器件工作温度的上、下限(即最