电荷放大器工作原理.docx

在测试系统中，测试产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力即为可靠性。测试系统的每一部分都会不同程度的影响整个系统的可靠性，由于部分的失效引起的系统失效的概率也就不同。 随着存储测试技术的发展，存储测试系统逐渐模块化、标准化和系列化。如果将一些功 能模块制成 ASIC，就会满足动态测试对测试装置的要求，并使存储测试系统可靠性得到极大地提高。图 1 为使用专用集成电路设计的存储测试系统。电荷放大器是测试系统中的一个串联环节，因此它的失效直接影响整个系统的失效。 电荷放大器的原理图 2 为电荷放大器原理图。 压电晶体受到压力作用产生电荷Q；Ca 是传感器级间电容，Qa 是此时充到 Ca 中的电荷；Cc 是传感器传输电缆的电容，Qc 是此时充到 Cc 中的电荷，Gc 是输入电缆漏电导；Ci 是电荷放大器的输入电容，Qi 是此时充到 Ci 中的电荷，Gi 是放大器的输入电导； Ud 是此时在运算放大器反相输入端上产生的差动电压；Cf 是电荷放大器的反馈电容，作 用到 Cf 两端的电压是 Ud 和输出电压 U0 的差值，Qf 是此时充入 Cf 的电荷，Gf 是放大器的反馈电导；运算放大器的开环系数为A，由于电压是反向输入，所以： U0=-A×Ud 因此作用在 Cf 两端的电压为： Ucf=Ud-（-A×Ud）=Ud×（1+A） 假设反馈电阻 Rf 的阻值为无限大： Q=Qa+Qc+Qi+Qf=Ud×（Ca+Cc+Ci+（1+A）Cf） 。_ 。__, [ ..,)Td = 于 已 ＋己 ＋ C1 + (1+ ..L--4 .) C歹 UTo = - A* Q Ca + (了c + Ci + (1+ 。  4 )C 1 在精度的范围内可以忽略部分数量级小的部分，可以认为： u 一 ， 一 o = 兰 Cf 根据传感器的电荷灵敏度、量程和反馈的电容计算出输出的最大电压。