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本公开是关于一种芯片的自动化测试系统、方法、存储介质和电子设备。该方法包括：向零终端发送调用指令，并获取零终端的解码驱动信息和显示器信息，并筛选出对应的待测用例场景；根据待测用例场景生成对应的编码指令和解码指令，发送至虚拟端和零终端，并生成编码文件和解码文件进行保存；获取零终端发送的画面的帧率值，并判断帧率值是否获取成功；若未出现获取失败，则对编码文件和解码文件进行分析。本公开通过将搭载待测芯片的测试板的零终端和虚拟端同时接入到该芯片的自动化测试系统中，首先依据准备好的所有的用例场景，对零终端和
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116819293 A
(43)申请公布日 2023.09.29
(21)申请号 202310493758.2
(22)申请日 2023.05.04
(71)申请人 西安万像电子科技有限公司
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