近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质.pdfVIP

近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质.pdf

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本申请涉及一种近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:利用矢量分析仪,测量第一同轴线缆的第一散射参数矩阵和第一输出电压、第二同轴线缆的第二散射参数矩阵和第二输出电压,以及近场探头的第三散射参数矩阵;根据第一散射参数矩阵、第二散射参数矩阵和第三散射参数矩阵,以及第一输出电压和第二输出电压,确定近场探头在未施加近场场景下的第三输出电压和第四输出电压;在通过校准件对近场探头施加近场的场景下,根据第三输出电压、第四输出电压和校准件的结构参数,确定近场探头的校准因子;其中,校准因子用

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116819417 A (43)申请公布日 2023.09.29 (21)申请号 202310667196.9 (22)申请日 2023.06.06 (71)申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研

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