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本公开提供一种功耗检测方法、翻转次数检测电路及设备,涉及集成电路技术领域。该方法包括:获取处理芯片在仿真过程中的至少一个目标信号以及每个目标信号分别对应的功耗系数,功耗系数用于表示目标信号所代表的一类信号,在翻转时所对应的总耗电量;获取目标信号在处理芯片的运行过程中,单位时长内的翻转次数;根据每个目标信号分别对应的翻转次数和功耗系数,确定处理芯片在运行过程中的功耗。本公开实施例在运行过程中,仅需要检测信号的翻转次数即可检测到功耗,这样,可以有效降低功耗的检测时延。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116819284 A
(43)申请公布日 2023.09.29
(21)申请号 202310807193.0
(22)申请日 2023.06.30
(71)申请人 龙芯中科技术股份有限公司
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