第 5 章 非平衡载流子
一个 n 型半导体样品的额外空穴密度为 1013cm-3,已知空穴寿命为 100?s,计算空穴的复合率。
用强光照射 n 型样品,假定光被均匀吸收,产生额外载流子,产生率为 gp, 空穴寿命为?,请
①写出光照开始阶段额外载流子密度随时间变化所满足的方程;
②求出光照下达到稳定状态时的额外载流子密度。
有一块 n 型硅样品,额外载流子寿命是 1?s,无光照时的电阻率是 10??cm。今用光照射该样品,光被半导体均匀吸收,电子-空穴对的产生率是 1022/cm3?s, 试计算光照下样品的电阻率,并求电导中少数载流子的贡献占多大比例?
一块半导体样品的额外载流子寿命? =10?s,今用光照在其中产生非平衡载流子,问光照突然停止后的 20?s 时刻其额外载流子密度衰减到原来的百分之几?
光照在掺杂浓度为 1016cm-3 的 n 型硅中产生的额外载流子密度为 ?n=?p= 1016cm-3。计算无光照和有光照时的电导率。
画出 p 型半导体在光照(小注入)前后的能带图,标出原来的费米能级和光照时的准费米能级。
D光照在施主浓度 N
D
=1015cm-3 的 n 型硅中产生额外载流子?n=?p=1014cm-3。试
计算这种情况下准费米能级的位置,并和原来的费米能级作比较。
在一块 p 型半导体中,有一种复合-产生中心,小注入时,被这些中心俘获的电子发射回导带
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