实验9单偏光下晶体的光学性质.docx

实验9单偏光下晶体的光学性质 一、实验目的 在单偏光下可以观察晶体的形态、结晶习性、解理颜色以及突起、糙面、多色性和吸收性，概略地比较矿物的折光率（贝壳线移动），用油侵法测定矿物的折光率等等，所以单偏光下的观察对矿物鉴定是很重要的。 二、实验内容矿物的形态 矿物在三维空间的立体几何形态有等轴状、厚板状、板状、片状、云母片状、长柱状、短柱状、针状和纤维状等（图9-1），由于薄片中所见晶体皆为切割磨制后的断面形状，同一晶体由于切片方向的不同，在显微镜下观察到的外形会有差异，如图9-2中所示，一个立方体在不同的切片方向时其外形可以是正方形、三角形、六边形、长方形以及其它不规则形状。但晶体的截面形态总具有表征晶体形态特点的意义，在相当程度上反映了某种矿物外形的一般特征，因此在综合同一矿物各截面方向的特点后，根据结晶学的知识就可勾画出晶体的主体几何形态，从而确定结晶习性及晶体生长时的物理化学条件等。 板状Z二■.二才一云母片状 板状Z二■.二才 一云母片状 图9-1矿物的空间形态 板柱状 图9-2立方体在显微镜下所见晶形与切片方向的关系 图9-3晶体的自形程度示意图 a-自形b-半自形c-他形 矿物的自形程度反映了其形成物理化学环境的某些特征，根据晶体发育程度可分为三种：自形晶、半自形晶及他形晶。 自形晶：薄片中晶形完整，一般呈规则的多边形，边棱全为直线(图9-3a)。析晶早，结晶能力强，物理化学环境适宜于晶体生长时，形成自形晶。 半自形晶：薄片中晶形较完整，但比自形晶差，部分晶棱为直线，部分为不规则的曲线(图9-3b)。析晶较晚的晶体往往是半自形晶。 他形晶：薄片中晶形呈不规则的粒状，晶棱都是他形的曲线(图9-3c)。他形晶是析晶最晚或温度下降较快时析出的晶体。 由于析晶时物质成分的粘度和杂质等因素的影响，也会形成一些奇形的晶体，在薄片中呈雪花状、树枝状、鳞片状和放射状等。 在显微镜下还常可以看到一个大晶体包裹着一些小晶体或其他物质，称为包裹体，包裹体可以是气体、液体、其它晶体或同种晶体。从包裹体的成分和形态可以分析出晶体生长时的物理化学环境，成为岩相分析的一个重要依据。 实验要求观察花岗岩中长石、石英和云母。 解理及解理角 晶体沿着一定方向裂开成光滑平面的性质称为解理，裂开的面称为解理面，解理面一般平行于晶面。不同的矿物，解理的有无、解理的方向、组数和解理的完善程度都是不同的，因此，解理是显微镜下矿物鉴定的重要特征之一。 晶体的解理在薄片中常表现为一些相互平行的细缝(解理面与切面的交线)，称为解理缝。按解理的完善程度，一般分为三级： 极完全解理：解理缝细而密集，平直而间距均匀，常常贯通整个颗粒，如图9-4a所示的黑云母的解理。 完全解理：解理清晰，但不完全贯通，常有中断现象，但连续性是主要的，中断现象居次要地位，如9-4b所示的辉石的解理。 不完全解理：解理在矿物颗粒上的分布常是不等距离的，连续性很差，仅能隐约看出其方向，有时甚至不太平直，如如9-4c所示的橄榄石的解理。 图9-4d中显示的是石榴子石的应力裂纹。一般，不具解理性质的矿物在各种外力(冷却收缩、构造应力等)作用下，可能具有的不规则裂纹在晶体上表现为无一定方向，裂纹也不平直，彼此常不平行。但当剪切应力很强烈时，无解理的矿物可能会产生具方向性的裂纹，它们看起来与解理非常相似，但多观察几个颗粒后，就会发现这些颗粒的裂纹都是朝着同一方向的，有的甚至不同种矿物的裂缝也都一致。 解理角是指两组解理面交线的垂面上的夹角，每种矿物其解理之间的夹角是一常数，因此可以测定其解理夹角具有一定的鉴定意义。 观察花岗岩中黑云母的完全解理，A12O3瓷的不完全解理；普通辉石的两组解理及方解石的三组解理，并测定方解石矿物的解理夹角。 解理夹角的测定步骤： 将方解石一组解理平行于十字线的竖线(或横线)，记下物台刻度数； 转动物台使另一组解理与竖线(或横线)平行，记下物台刻度数； 两次物台刻度数之差即为两组解理间的夹角。 图9-4a黑云母的极完全解理图9-4b辉石的完全解理图9-4c橄榄石的不完全解理图9-4d石榴子石的应力裂纹矿物的突起及糙面(1)突起和闪突起 图9-4a黑云母的极完全解理 图9-4b辉石的完全解理 图9-4c橄榄石的不完全解理 图9-4d石榴子石的应力裂纹 在薄片中，不同的晶体表面好象高低不同，某些晶体显得高一些，某些晶体显得低平一些，这种现象称为突起(Relief)。在同一薄片中，各个晶体表面实际上是在同一水平面上，由于晶体折射率与树胶的折射率不同，从而引起人们在视觉上有突起的感觉。晶体的折射率与树胶的折射率相差愈大，则晶体的突起愈高。 晶体的突起实际上是矿物的边缘、贝壳线、糙面等与折射率有关的现象的总的表现，可 以由于矿物不规则的边缘、解理、裂隙、包裹体以及次生变化等现象而表现