X射线衍射实验.docVIP

PAGE PAGE 40 X射线布拉格衍射实验 一、 实验目的 1) 观察用X射线对NaCl单晶的Bragg衍射。 2) 确定X射线和线的波长。 3) 验证Bragg衍射定律 4) 明确X射线的波长的性质。 二、 实验装置 德国莱宝教具公司生产的X射线装置是用微处理器控制的可进行多种实验的小型X射线装置。该装置的高压系统、X光管和实验区域被完全密封起来，正面装有两扇铅玻璃门,当它们其中任意一扇被打开时会自动切断高压，具有较大的安全性。其测量结果通过计算机实时采集和处理，使用极其方便。 本实验所用装置为554 81X-RAY APPARATUS。 在X射线装置中，左侧上方是控制面板，其下方是连接面板。中间是X光管室，装有Mo（钼）阳极的X光管，其高度可通过底部的调解螺杆进行调整。右面是实验区域，如图1所示，其中左边装有准直器和锆滤片；中间是靶台，NaCl和LiF单晶就安装在靶台上；右边是测角器，松开锁定杆可调整测角器的位 图1 实验区域图 置，端窗型G-M计数管也安装在测角器上。X射线装置的左侧面是主电源开关，右侧面有一圆形的荧光屏，它是一种表面涂有荧光物质的铅玻璃平板，用于在“透照法”实验中观察X光线，平时用盖板罩起来以避免损坏荧光物质。其下方是空通道，它构成实验区域内外沟通的渠道，被设计成迷宫，以不使X射线外泄。装置的底部有四个脚，上方有两个提手柄。 如图2，是控制面板的示意图。 b1b5b4b3b2图 2 控制面板其中b1是显示位置，其顶部显示当前计数率，底部显示所用键的设置参数。在“耦合”模式下，靶的角度位置显示在显示区域的底部而顶部则显示传感器的计数率与角度位置。b2是调节旋钮，所有的参数设置均通过它来调节。b3是参数选择区域，它们是：U（管电压）、I（管电流）、△t（测量时间）、△β（测角器转动的角 步幅）、β b1 b5 b4 b3 b2 图 2 控制面板 三、 实验原理 1） X射线的产生和性质 Ｘ射线的产生一般利用高速电子和物质原子的碰撞实现。常见的Ｘ射线管是一个真空二极管，管内阴极是炽热的钨丝，可发射电子，阳极是表面嵌有靶材料的钼块。两极加上几十千伏的高压，由此产生很强的电场使电子到达阳极时获得高速。高速运动的电子打在阳极靶面上，它的动能一部分转化为Ｘ射线的能量，其余大部分变为热能使阳极温度迅速升高，工作时需要对阳极散热。 从Ｘ射线管发出的Ｘ射线可以分为两部分：一是具有连续波长的Ｘ射线，构成连续ｘ射线谱；另一部分是具有特定波长的标识谱，又名特征谱，它叠加在连续谱上成为几个尖锐的峰，如图3所示。 产生连续谱和标识谱的机理不同： 连续谱：高速电子到达阳极表面时，电子的运动突然受阻，根据电磁场理论，这种电子产生韧制辐射， 图3 X射线光谱图 向外发射电磁波。这种辐射的特点是所产生的电磁波具有各种不同的波长，形成一个从某一最短波长的λmin开始的连续的包括各种波长的X射线谱。设X射线管两级间电压为u，从能量守恒定律可知 (?) 式中c为光速，e为电子电量，h为普朗克常数，该式说明λmin随极间电压u的增加而减小。将u用于千夫表示代入各常数值即得第二等式。连续谱的强度I和分布还和管电流、靶材料有关。 标识谱：由于电子轰击，阳极物质的原子激发，靠近原子核的内层电子脱离了原子，然后外层电子跃迁到内层的空位上，这时原子发射的X射线即为标志谱。不同材料阳极靶的标识谱结构相同，即都分为K,L,…等线系，每个线系又有多条谱线。有用的是波长最短、强度最大的K系谱线，主要包括和线，它们又各有精细结构，但常由于不能分辨而不必去注意，只须注意的强度为的五到十倍，波长比略大。当然只有工作电压大到使电子具有的能量足以激发K层电子时，才会出现K线系。我们称能产生K线系的电压最小值为临界电压，记为uk。当u uk时，u越大，则标识谱强度越大。 hklhkl hkl hkl d 1 2 2 1 2θ θ θ θ θ θ θ B C D A 至较深层晶面 图4 X射线在晶格上的衍射 将X射线晶体点阵上的定向衍射看作是一组由点阵原子组成的晶面上产生干涉性反射的结果。由晶体点阵的原子所散射的射线相互作用，与从一组晶面或原子面上所发生的反射作用是类似的。但是，这种反射与光学上的反射不同，它不能取任意的入射角，而是一种选择性的反射作用。当一束波长为λ，经过准直的单色X射线，以掠射角θ投射到晶面间距为d的一组晶面（hkl）上时，则在每一晶面上的原子，都向各种方向发射出次级散射线，其中有些散射线可以看成是各层原