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实验二 进位控制实验 实验目的 验证带进位控制的算术运算功能发生器的功能 按指定数据完成几种指定的算术运算 二、实验设备 TDN-CM++计算机组成原理教学实验系统 排线若干 实验内容 实验原理 见所附实验原理图。181的进位进入一个74锁存器，其写入有T4和AR信号控制，T4是脉冲信号，实验时将T4连至“STATE UNIT”的微动开关KK2上。AR是电平控制信号（低电平有效），可用于实现带进位控制实验，而T4脉冲是将本次运算的进位结果锁存到进位锁存器中。 （二）实验步骤 1、按图2连接电路，打开电源开关。 2、用输入开关向暂存器DR1和DR2置数。（步骤同实验一） 3、关闭数据输入三态门（SW-B=1），打开ALU输出三态门（ALU-B=0），并使LDDR1=0、LDDR2=０，关闭寄存器。 4、对进位标志清零。 实验板上“SWITCH UNIT”单元中的CLR开关为标志CY、ZI的清零开关，它为领事事情零状态，所以将此开关做1→0→1操作，即可使标志位清零。 注意：进位标志位指示灯CY亮时表示进位标志位为“0”，无进位；标志位指示灯CY灭时表示进位为“1”，有进位。 验证带进位运算及进位锁存功能。 使Cn=1，AR=0，进行带进位算术运算。 例如作加法运算，使ALU-B=0，S3、S2、S1、S0、M状态为10010，此时数据总线上显示的数为DR1加DR2加当前进位标志，这个结果是否有进位产生，则要按动微动开关KK2，若进位标志灯亮，则无进位，反之则有进位。因作加法运算时数据总线一直显示的数据为DR1+DR2+CY，所以当有进位输入到进位锁存器后，总线显示的数据为加上进位位的结果。 W/R UNIT W/R UNIT T4 STATE UNIT KK2 ALU UNIT AR AUJ3 ALU-B S3-CN LDDR1 LDDR2 SWJ3 SW-B INPUT UNIT SW-B ALU-B S3—CN LDDR1 LDDR2 AR SWITCH UNIT 图2 进位控制实验接线图