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本发明涉及存储芯片技术领域,公开了一种存储芯片的电阻补偿方法、装置、设备及存储介质,用于提高存储芯片的电阻补偿准确率。方法包括:采集目标存储芯片的工作温度数据和电阻值数据;根据工作温度数据和电阻值数据构建温度与电阻变化模型;根据温度与电阻变化模型生成第一电阻补偿策略;获取实时温度数据并根据第一电阻补偿策略生成电阻补偿信号;基于电阻补偿信号对目标存储芯片进行电阻补偿,并获取电路延迟数据以及目标存储芯片的芯片能耗数据;根据电路延迟数据和芯片能耗数据进行补偿参数优化,生成第二电阻补偿策略;对第二电阻补
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116882301 A
(43)申请公布日 2023.10.13
(21)申请号 202311126615.4
(22)申请日 2023.09.04
(71)申请人 联和存储科技 (
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