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本发明公开了一种集成电路总线的测试方法、装置、设备及介质，涉及计算机测试技术领域。方法包括：接收主机端通过集成电路总线发送的被测试数据；对被测试数据分类得到分类结果；其中，每个集成电路总线发送多个同种类型的被测试数据；根据分类结果进行地址匹配，得到匹配结果；根据匹配结果确定对集成电路总线的测试结果；其中，对被测试数据分类包括：检测被测试数据对应的波形；当波形一直为固定电平值，确定波形对应的被测试数据为第一信号和/或第二信号。由于从机端能够对被测试数据分类，此时无需将每个IIC接口一对一连接用于测
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116881060 A
(43)申请公布日 2023.10.13
(21)申请号 202310943840.0
(22)申请日 2023.07.28
(71)申请人 苏州浪潮智能科技有限公司
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