一种老化系统、方法以及存储介质.pdfVIP

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2023-10-14 发布于四川
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一种老化系统、方法以及存储介质.pdf

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本申请涉及产品测试领域，公开了一种老化系统、方法以及存储介质。本申请的老化系统包括用于输出老化测试数据的控制装置、用于根据老化数据对电子设备进行老化的至少两个老化模组以及具有第一接口的数据传输装置。各老化模组对应不同类型电子设备，第一接口能被编程以更换类型而适配不同老化模组，使得老化模组根据第一接口传输的老化测试数据对其对应的电子设备进行老化。矩阵化设计，构建多套老化模组且配合设置具有可编程的第一接口的数据传输装置，使老化系统支持总线类型不限，通道数量可扩展，以适用不同类型电子设备的老化测试。另

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116879654 A (43)申请公布日 2023.10.13 (21)申请号 202310843048.8 (22)申请日 2023.07.10 (71)申请人上海艾为电子技术股份有限公司地址