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以单片机为核心的频率响应测试仪方法设计 引言 在 模拟 电路设计和调试过程中， 测量系统的频率响应特性是非常重要的一步。而市场上能购买到的具有分析系统频率响应的仪器通常都比较昂贵， 而且体积较大， 一般很难接受。为此， 本文介绍了一种成本较低、体积小、操作简单， 能满足大部分系统测量要求的频率响应测试仪的设计方法。 1 系统总体设计 本文介绍的是基于 单片机C8051F060和频率合成 芯片 AD9834开发的、可测量系统频率响应曲线的仪器系统。其系统总体设计框图如图1所示。 图1 系统总体设计框图。 本设计中的单片机C8051F060可控制扫频 信号源， 以产生一系列不同频率的正弦信号， 然后将这些信号进行滤波、放大后作为被测对象的输入送到被测 网络中， 而被测对象的输出信号则经过调理电路输入到单片机C8051F060中进行数据采集与处理， 并将其幅频特性曲线、相频特性曲线通过 LED显示出来。键盘可通过控制单片机来设置频率的步进值。 2 各部分模块的设计 2.1 主要芯片简介 本系统中的C8051F060是美国Cygnal公司推出的完全集成混合信号片上系统型 MCU。 C8051F060采用与8051兼容的专利内核CIP-51，速度高达25MIPS， 并具有59个数字I/O 引脚、5个16位通用 定时器、6个带有捕捉/比较模块的可