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一种多扫描链的自测试技术 1 测试向量生成 基于扫描的内部自测试技术（scan基础bist）使用线性反馈位移记录（lfsr）生成测试向量，并使用多个输入功能记录（misr）压缩测试响应。其实质是bist来完成扫描测试的ase功能。该方法的原理非常简单，因此它被广泛应用于全扫描测试和边界扫描测试，因此受到了高度重视和应用。 在满足故障覆盖率要求的情况下,内建自测试的测试效率体现在测试应用时间的多少.特别是对基于扫描的内建自测试而言,测试向量生成器串行地把GF(2)序列移入扫描链中形成测试向量,测试规模的增大使得测试所需的测试应用时间迅速增加,进而增加了测试费用.随着集成电路设计的复杂度和产品产量的增加,测试应用时间成为决定测试效率的关键因素,所以如何减少测试应用时间具有重要的实际意义. 基于扫描的内建自测试主要包括两种结构——基于单扫描链的设计和基于多扫描的设计.基于多扫描链的设计正是解决应用单扫描链测试时测试应用时间过长的主要方法.但是在基于多扫描链的内建自测试中,由于不同扫描链间的相关性影响了电路中的故障检测,因此为了获得较高的故障覆盖率研究测试向量生成结构是十分重要的.目前基于多扫描链的内建自测试技术多采用一个LFSR通过移相器给多扫描链提供测试向量,但利用这种方法一般不能保证被测电路的故障完全检测. 本文提出了一种应用于基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成方法.该方法可以实现被测电路的故障完全检测.这种测试向量生成方法利用一个LFSR同时给所有扫描链输入测试向量,通过构造具有最小相关度的多扫描链来克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响.并针对所有难测故障利用ATPG生成最小确定性测试向量集,根据最小测试向量集设计位改变逻辑电路,利用位改变逻辑电路控制改变扫描链上特定位的值来实现对难测故障的检测,进而实现被测电路的故障完全检测. 2 多扫描链自适应的测试向量 基于扫描的内建自测试技术通过把GF(2)序列移入扫描链中形成测试向量.如果被测试电路中包含多个并行的扫描链,则需要一个并行的测试向量生成器来移入测试向量,同时需要一个多输入特征分析器(MISR)分析来自扫描链和原始输出端的测试结果,具体结构见图1.此时移入一个测试向量所需的时钟数减少为单扫描情况下的1k?k1k?k为扫描链数.为了减少硬件开销,一般情况下用一个LFSR来实现测试向量,结构见图2.此时移入不同扫描链中的测试向量只差一位的相移,测试时必然要比单扫描链情况下大大降低了故障覆盖率.为了提高故障覆盖率,以往采取的方案是利用一个LFSR和一个移相器构成伪随机测试向量生成器,见图3.测试时通过移相器把LFSR的输出变成不相关的信号输入到不同的扫描链中. 但利用移相器形成的不相关随机测试向量也不能保证电路中的可测故障的完全检测.本文在分析多扫描链构造对故障覆盖率影响的基础上提出了一种测试向量生成结构,具体见图4.该测试结构中一个LFSR作为伪随机测试向量生成器把GF(2)序列移入扫描链中,同时作为原始输入端的输入和内部触发器的状态,并通过多扫描链的构造来克服由于扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响.此外在多扫描链与被测电路之间设计了一个位改变逻辑电路来控制多扫描链上的值的输入.当控制信号test_con为0时多扫描链上的值直接输入到被测电路,测试易测试故障;当控制信号test_con为1时多扫描链上的一些特定位上的值经过位改变逻辑电路(BML)的改变再输入到被测电路,测试那些难测试故障,从而实现电路中故障的完全检测.因此这种测试方法的关键是如何实现多扫描链的构造和位改变逻辑电路的设计. 3 多扫描链构造形式的影响 利用一个LFSR同时给多个扫描链提供测试向量时故障覆盖率降低的主要原因是不同扫描链间的相关性限定了测试向量的随机性.下面用图5所示的例子加以说明,假设a1,a2,a3,a4和b1,b2,b3,b4分别是4个D触发器的输出和输入.如果该电路采用基于两个扫描链的内建自测试技术来测试,具体测试结构见图6.电路中简并可测的单固定型故障有30个.这里需要说明的是LFSR阶数k的选取要满足2k-1与多扫描链中单扫描链的长度互质. 如果用1个扫描链给电路提供测试向量,每输入一个测试向量则需要4个时钟周期.伪随机测试时全部15个测试向量需要60个时钟周期才能完成所有测试向量输入.而如果用2个扫描链给电路提供测试向量,每输入一个测试向量则只需要2个时钟周期.伪随机测试时3个测试向量需6个时钟周期就可以完成了.此时测试向量输入所需的时钟周期比单扫描链情况下的减少了90%.但由于不同扫描链间的相关性限制了这3个测试向量的随机性,势必要影响电路中的故障检测.例如扫描链的构成分别为{a1,a2},{a3,a4},伪随机测试向量集实现为{1010,0101,1111},经过模拟