热辐射性质课件.pptxVIP

** 热辐射性质 **辐射是传热的三种基本方式之一，其主要特点是：任何物体，只要温度高于0K，就会不停地向周围空间发出热辐射；不需中间介质，可以在真空中传播；伴随能量形式的转变；具有强烈的方向性；辐射能与温度和波长均有关；发射辐射取决于温度的4次方。 **热辐射的本质：由热运动产生的，以电磁波形式传递的能量；波长范围0.1μm～100μm ，即紫外、可见光和红外。 **热辐射性质主要有：发射率、吸收率、反射率、透过率发射率ε物质在一定温度下所辐射的热能与黑体在同温度下所辐射的能量之比。表征物体辐射能力的强弱。物质发射率的大小，除了与物质的结构、物理化学性质、温度等有关外，在很大程度上还取决于物体表面状态，因此，严格的说发射率与比热、导热系数不同，它并不是表征物质属性的物理量，除非表面是高度抛光的洁净光学表面。 **发射率ε的测量1.光谱法向发射率ελ,n(λ,T)表示与物体表面垂直方向的发射率。辐射计法利用单色仪或分光光度计获得待测表面的发射辐射在不同波长处的单色辐射，用探测器测定其信号，用同样的方法对同温度的黑体单色辐射进行测定，比较两次测量结果可得ελ,n。 ** **发射率ε的测量1.光谱法向发射率ελ,n(λ,T)表示与物体表面垂直方向的发射率。辐射计法试样的光谱法向辐射强度和黑体的光谱辐射强度分别为Iλ,n和Iλ,b；试样光路和参比光路各零件辐射强度为Iλ,s,L和Iλ,b,L且认为二者相等。 **发射率ε的测量辐射计法探测器对样品和黑体辐射的输出信号之比为：将加热样品炉从试样光路移去，有： 1-(2)式得：(1)与(2)式相减得： (2)(3)(4)(1) **发射率ε的测量辐射计法则样品的光谱法向发射率为： **发射率ε的测量2. 光谱定向发射率ελ,θ(λ,T)表示与物体表面特定方向的发射率。 AB水冷样品热腔热腔反射率法 热腔为圆筒形空腔，温度均匀，近似为黑体。将水冷的样品受到来自腔壁的黑体辐射的半球向照射。通过腔底小孔可使单色仪分别探测来自样品的反射和腔体的辐射。 **发射率ε的测量热腔反射率法样品反射辐射信号正比于样品在半球向漫照射下的光谱反射辐射强度Iλ, θr,h腔体壁辐射信号正比于均匀分布于半球空间对样品的光谱投射辐射强度Iλ,i AB水冷样品热腔样品在反射方向θr、Φr的亮度系数为： **发射率ε的测量热腔反射率法而半球向漫照时，光谱半球向－定向反射率为： 根据： 可得光谱定向发射率ελ,θAB水冷样品热腔同时光谱定向照射下的半球向反射率和光谱半球向漫射照射下的定向反射率相等： **发射率ε的测量3. 全波长法向发射率εn指法向所有波长的平均发射率。 基本原理：用热辐射接收器在相同条件下接收待测表面和标准表面(黑体)的热辐射能，比较后求出εn。 **发射率ε的测量3. 全波长法向发射率εn指法向所有波长的平均发射率。 接收器对样品辐射的输出信号为：M为仪器常数。若以黑体替代样品，有：得： **发射率ε的测量4. 全波长半球向发射率εh指所有方向和波长的平均发射率。是工程应用中最重要的热辐射性质。通常采用卡计法测量。 稳态卡计法 只能测量某一温度下的値对样品(金属)直接通电加热，温度稳定后，试样轴向恒温段与腔体间的换热量为：真空恒温腔分母是阻值 **发射率ε的测量4. 全波长半球向发射率εh稳态卡计法常温或低温测量时，可采用此装置。测量原理不变。 **发射率ε的测量4. 全波长半球向发射率εh瞬态卡计法 可在较宽温度范围内测量原理：使受热试样在真空腔中冷却，测定冷却速率，若已知试样比热和质量，则可确定试样表面的辐射热损速率，并由此得εh ： T为试样温度，内部温度均匀，采用集总热容法处理 **发射率ε的测量4. 全波长半球向发射率εh瞬态卡计法原理：使受热试样在真空腔中冷却，测定冷却速率，若已知试样比热和质量，则可确定试样表面的辐射热损速率，并由此得εh ： 常温或低温测量 **发射率ε的测量4. 全波长半球向发射率εh瞬态卡计法原理：使受热试样在真空腔中冷却，测定冷却速率，若已知试样比热和质量，则可确定试样表面的辐射热损速率，并由此得εh ： 高温测量