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本申请公开了一种芯片的可靠性测试方法及测试系统，本申请针对芯片的光学图像是光学显微镜采集芯片表层的放大图像这一特性，采用了单阶段检测网络，即YOLOv5网络作为检测网络，而且还对YOLOv5进行了改进，在YOLOv5网络中的最后一个SPP之后增加基于通道注意力机制和空间注意力机制的双重注意力机制，构建新的检测网络，然后通过芯片样本的光学图像对检测网络进行训练，最后得到检测器，利用检测器实现对待检测芯片的检测。本申请利用通道注意力机制和空间注意力机制增强YOLOv5网络对于浅层特征的语义信息和深层
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116934733 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202310979636.4 G06T 5/40 (2006.01)
(22)申请日 2023.08.0
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