《基于光谱反演的光学薄膜常数测试方法》编制说明.pdfVIP

《基于光谱反演的光学薄膜常数测试方法》 编制说明 一、任务来源及计划要求 经中国材料与试验团体标准委员会 （CSTM标准委员会）光电材料 及产品领域委员会审查，CSTM标准委员会批准CSTM标准 《基于光谱 反演的光学薄膜常数测试方法》由西南技术物理研究所牵头，项目公 告文件号：材试标字[2019]197号，归口管理委员会为CSTM/FC60、TC05 光电材料及产品领域委员会光学薄膜标准化技术委员会，标准计划编 号为CSTM LX 6005 00313-2019。 二、编制说明 1. 编制原则 本标准符合国家有关法规和政策，贯彻贯彻执行国家标准、国家 军用标准和行业标准的有关规定，充分吸收适用于本技术要求的相关 国家标准、国家军用标准的内容，与相关标准协调一致。 本标准的构成、内容、文字的表述、条文的编排、文件的引用等 符合GJB6000-2001 《标准编写规定》的要求。 编制出的标准应具有先进性、适用性、科学性和可操作性。 2. 工作分工 本标准由西南技术物理研究所牵头，上海光学精密机械研究所为 联合承研单位。具体分工如下： 1）西南技术物理研究所负责标准项目研制申请报告、膜层模型和