光储充一体机调试方法、装置、设备及介质.pdfVIP

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2023-10-25 发布于四川
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本申请提供一种光储充一体机调试方法、装置、设备及介质，适用于调试设备，该调试方法包括：对光储充一体机内的芯片配置通信接口，芯片为单核芯片或多核芯片；根据芯片配置的通信接口与调试设备之间建立通信链路；向芯片发送调试指令，响应于调试指令加载调试程序，以使光储充一体机执行与调试指令相匹配的业务，生成调试结果；将调试结果实时同步于调试设备，并予以显示，本申请无需使用jlink仿真器进行在线仿真，也能够实时获取芯片内部信息，实时掌控芯片动态；另一方面，摒弃了jlink仿真器进行仿真，降低了调试设备的使用条

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116932380 A (43)申请公布日 2023.10.24 (21)申请号 202310675472.6 (22)申请日 2023.06.07 (71)申请人上海思格源智能科