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本发明涉及光电信号监测技术领域，具体涉及一种用于集成光电芯片的监测方法。该方法获取各类光电信号监测数据；按照时间排列，找出突出的变化点，并计算每个监测数据与突出变化点的距离向量，根据监测数据间距离向量的相关性计算平滑程度系数；按照数据值大小排列，找出顺序序列内的频率极大值点，结合监测数据的数据值差异与频率，计算局部密集程度与相对密集程度，进而得到数据密集度；在密度聚类算法中，根据平滑程度系数与数据密集度调整初始聚类密度得到自适应局部密度，得到聚类结果；根据聚类结果监测光电信号。本方法能够通过更加
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116953488 A
(43)申请公布日 2023.10.27
(21)申请号 202311203229.0
(22)申请日 2023.09.19
(71)申请人 深圳市东陆科技有限公司
地址 5
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