多晶体分析方法及应用.pptVIP

基础：X射线产生、 X射线在晶体中衍射基本原理； 本章将介绍：X射线衍射基本实验方法及应用。主要包括： 第一节 多晶衍射方法 第二节 X射线物相分析 第三节 点阵常数的精确测定 第四节 宏观应力测定 第五节 微观应力及晶粒尺寸测定 第六节 非晶态物质衍射及X射线动态分析;第一节 多晶衍射方法 ;一、德拜-谢乐法（Debye-Scherrer method）;（一）德拜像摄照;（一）德拜像摄照;（一）德拜像摄照;（一）德拜像摄照;（一）德拜像摄照;（二）德拜像分析;1. 德拜像测量和计算：（衍射线位置和强度） 判别底片安装方法，区分高角区（宽、浅）和低角区（窄、深）； 游标卡尺测量衍射线对距离，估计衍射线相对黑度。 测量和计算步骤： 对各弧对标号，作基线；（从低角区起始） 测量有效周长； 测量并计算弧线对的间距； 计算衍射角； 计算晶面间距； 估计或测量相对强度； 查卡片确定物相;德拜法衍射几何及德拜像图 ;（2）对背射区，即2θ＞90o时 ;③由各衍射角θ1、 θ2 、θ3…，再算出对应反射面间距 d 。;⑤查卡片：由衍射花样测量和计算，得出各衍射角θ、晶面间距 d 及对应的相对强度 I/I1。即 θ1、θ2、