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本发明提供一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，所述方法包括步骤为：获取面板的表征数据；对面板进行网格划分，并且根据面板的表征数据统计每个网格的缺陷点数量；对所有网格进行相邻关系判定，以得到所有网格的空间权重矩阵；基于每个网格的缺陷点数量和所有网格的空间权重矩阵，计算面板的全局聚集系数和聚集置信度；基于面板的全局聚集系数和聚集置信度，输出面板的缺陷点聚集判定结果。本发明通过结合网格的空间关系以及网格的缺陷点数量计算面板的全局聚集系数和聚集置信度，以实现面板缺陷点
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116993674 A
(43)申请公布日 2023.11.03
(21)申请号 202310799653.X
(22)申请日 2023.07.03
(71)申请人 成都数之联科技股份有限公司
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