漏点分析设备.pdfVIP

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  • 2023-11-08 发布于四川
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本申请公开一种漏点分析设备,漏点分析设备用于分析设有外孔的电子设备并包括底座、压紧装置、封堵件和锁紧装置,底座具有用于放置电子设备的安装位,压紧装置安装于底座并用于将电子设备固定于安装位,封堵件与底座可移动地相连,封堵件具有封堵电子设备的外孔的封堵位置,锁紧装置安装于底座,锁紧装置与封堵件传动相连以便于将封堵件锁紧至封堵位置。本申请提供的漏点分析设备具有密封成本低和密封效率高的优点。

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219977687 U (45)授权公告日 2023.11.07 (21)申请号 202320940836.4 (22)申请日 2023.04.24 (73)专利权人 北京小米移动软件有限公司 地址

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