一种合成孔径成像的仿真方法.pdfVIP

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2023-11-08 发布于四川
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一种合成孔径成像的仿真方法.pdf

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本申请提出了一种合成孔径成像的算法，在不明显降低仿真效率的情况下，提高了光学传输过程仿真采样率，避免目标高频信息非受控丢失，在仿真过程中进行了光学传输采样率和CCD（或CMOS）采样率的区分，在特定步骤进行重采样（包括超采样以及降采样），在光学传输采样步骤时进行超采样，在CCD（或CMOS）采样步骤进行降采样，可实现通过超采样实现在光学传输过程高采样率的情况下，通过降采样，再进行特定CCD（或CMOS）采样率的傅里叶叠层成像仿真。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117011140 A (43)申请公布日 2023.11.07 (21)申请号 202310898431.3 (22)申请日 2023.07.21 (71)申请人天府兴隆湖实验室地址 6102