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大口径光学系统的子孔径波前斜率拼接检测方法研究的中期报告 Introduction: 大口径光学系统是一种重要的光学系统，广泛应用于卫星观测、航空制导、星座通信、望远镜等领域。在大口径光学系统中，由于材料、加工、组装等原因，会产生光学系统配合误差，导致成像质量下降或成像失真。为了避免这种误差，需要对大径光学系统进行检测和校准。目前，常用的方法是使用子孔径波前传感器和配合误差测量系统进行检测和校准。 在本文中，我们将介绍一种子孔径波前斜率拼接检测方法，该方法可提高检测精度和效率，为大口径光学系统的检测和校准提供一种新的思路和方法。 Method: 该方法基于子孔径波前传感器和配合误差测量系统，主要包括以下步骤： 1. 将大口径光学系统分成若干个子孔径，并使用子孔径波前传感器对每个子孔径的波前进行测量。 2. 根据每个子孔径的波前数据，分别计算每个子孔径的斜率，即子孔径的相位梯度。 3. 将每个子孔径的斜率进行拼接，得到整个大口径光学系统的波前斜率数据。 4. 使用配合误差测量系统对整个大口径光学系统进行测量，得到整个光学系统的配合误差数据。 5. 根据波前斜率数据和配合误差数据，对大口径光学系统进行校准，并验证校准效果。 Result: 该方法能够有效提高大口径光学系统的检测和校准精度和效率。通过子孔径波前斜率拼接，可以在保证检测精度的情况下，大大缩短检测时间和提高检测效率。该方法还能够有效避免由于光学系统配合误差引起的成像质量下降或成像失真的问题。 Conclusion: 子孔径波前斜率拼接检测方法是一种新思路和方法，能够有效提高大口径光学系统的检测和校准精度和效率，为大口径光学系统的设计、制造和调试提供了一种有效的手段。在今后的研究中，我们将进一步完善该方法，并对其在实际应用中的效果进行验证，以期能够更好地满足大口径光学系统的需要。