DDR5温度传感器的测试系统、方法、计算机设备及存储介质.pdfVIP

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2023-11-11 发布于四川
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DDR5温度传感器的测试系统、方法、计算机设备及存储介质.pdf

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本发明公开了DDR5温度传感器的测试系统、方法、计算机设备及存储介质，该方法包括：通过UART串口向测试模块发出测试信号，以使FPGA模组根据所述测试信号进行初始化配置；利用FPGA模组对温度控制装置和DDR5测试装置进行在位判断，并根据在位判断结果进行初始化配置，然后在判定温度控制装置和DDR5测试装置均在位后确认开始测试；控制温度控制装置启动，以及向DDR5测试装置发布相应的总线命令，以使DDR5测试装置进行TS寄存器转换；获取温度控制装置的第一温度数据以及DDR5测试装置的第二温度数据；对

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117031165 A (43)申请公布日 2023.11.10 (21)申请号 202311006006.5 (22)申请日 2023.08.10 (71)申请人南宁泰克半导体有限公司地址 5