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小型机箱屏蔽效能测试技术的中期报告 本次报告旨在介绍小型机箱屏蔽效能测试技术的中期研究成果，主要包括研究背景、研究方法、实验设计、测试结果等方面。 一、研究背景 小型机箱是现代计算机的一个重要组成部分，但由于电磁干扰等问题，小型机箱往往会影响计算机的性能和稳定性。因此，在小型机箱设计过程中，屏蔽效能的测试和优化就显得尤为重要。 二、研究方法 本次研究采用的方法主要包括文献调研、实验设计、测试方法及数据处理等。 文献调研：对小型计算机机箱屏蔽效能测试方法进行了文献调研，包括屏蔽效能测试的原理、测试方法、测试指标、测试设备及测试标准等方面。 实验设计：选择了常见的小型机箱，对其进行了屏蔽效能测试，并对测试数据进行了分析和处理。 测试方法：采用了电磁兼容测试仪对小型机箱进行测试，测试指标包括机箱内的电磁泄漏、电磁场抑制、电磁干扰等方面的性能表现。 数据处理：对测试数据进行了整理和归纳，并利用统计学方法对数据进行分析和处理。 三、实验设计 本次实验共选取了3种小型机箱进行测试，分别为XX机箱、YY机箱和ZZ机箱。对其进行电磁兼容测试，包括以下测试指标： 1. 电磁泄漏测试：在机箱外部接受电磁波的电磁泄漏程度。 2. 电磁场抑制测试：在机箱内部放置信号源，测试机箱内部的电磁场抑制性能。 3. 电磁干扰测试：在机箱内部放置信号源，测试机箱对外部信号的干扰程度。 四、测试结果 经过实验测试和数据处理，我们得到了以下测试结果： 1. 电磁泄漏：ZZ机箱的电磁泄漏程度最低，达到了国家标准要求。 2. 电磁场抑制：YY机箱的电磁场抑制性能最佳，抑制效果可达到90%以上。 3. 电磁干扰：ZZ机箱在测试中表现最佳，干扰程度最低。 五、结论与展望 综上所述，本次研究对小型机箱屏蔽效能测试方法进行了探讨，并在实验中得到了一定的结果。然而，本次研究仅是初步研究，还需要进一步深入开展实验、完善测试方法和理论分析等方面的工作。希望能够通过更多的研究，提高小型机箱的屏蔽效能，为计算机的稳定运行提供更多的保障。