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- 2023-11-15 发布于四川
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本发明提供一种半导体结构的制备方法。该制备方法包括:在一基底上形成一介电层;在该介电层中形成一开口;形成与该开口共形的一第一衬垫;在该开口中形成一多孔层并被该第一衬垫包围;形成穿透该介电层的一导电通孔;以及在该介电层上形成一导电垫,其中该导电垫覆盖该多孔层及该导电通孔。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117059566 A
(43)申请公布日 2023.11.14
(21)申请号 202310247508.0
(22)申请日 2023.03.15
(30)优先权数据
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