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基于AFM-IR的红外光谱测量方法及系统.pdfVIP

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  • 2023-11-22 发布于四川
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基于AFM-IR的红外光谱测量方法及系统.pdf

    本发明揭示了一种基于AFM‑IR的红外光谱测量方法及系统，所述方法包括以下步骤：S1、将待测样品置于纳米红外光谱仪的腔体中；S2、对纳米红外光谱仪的腔体进行抽真空，并控制腔体压强为预设压强；S3、在预设压强下通过纳米红外光谱仪测量待测样品的AFM形貌图以及AFM形貌图中采样点的红外光谱信号。本发明在不大幅度改变纳米红外光谱仪的情况下，通过控制纳米红外光谱仪的腔体压强，能够调控红外光谱信号的强度，为精准高效测量低剂量材料的表面纳米红外信息带来了更广泛的应用。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117092056 A (43)申请公布日 2023.11.21 (21)申请号 202311067310.0 (22)申请日 2023.08.23 (71)申请人 中国科学院苏州纳

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