一种颗粒测量探针、系统和方法.pdfVIP

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本发明公开了一种颗粒测量探针,该探针包括,探针杆,以及设置在该探针杆顶端部的数据采集部。数据采集部包括,激光器、沿所述激光器发射光光路设置的第一耦合透镜、入射光纤;光电检测器、沿所述光电检测器接收光光路设置的第二耦合透镜、接收光纤;入射光纤、接收光纤接入光纤合束器;探针杆内置有耦合光纤,该耦合光纤的第一端部接入所述数据采集部的光纤合束器,耦合光纤的第二端部位于所述探针杆的底端部;当探针杆的底端部被置于待测量的颗粒悬浮液内,颗粒测量探针通过所述耦合光纤的第二端部对颗粒悬浮液中的颗粒进行测量。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117110153 A (43)申请公布日 2023.11.24 (21)申请号 202311062400.0 (22)申请日 2023.08.21 (71)申请人 嘉兴美帕克仪器科技有限公司 地址

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