电感耦合等离子体原子发射光谱法测定碳化硅中杂质元素.pdfVIP

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,2010,30(7):4851

MetallurgicalAnalysis,2010,30(7):4851

:1000-7571(2010)07-0048-04

(,455004)

:提出了使用电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定碳化硅中微量FeAlTiCa

MgPMn的分析法样品用无水碳酸钠与硼酸混合熔剂熔融,硝酸提取,甲醇除硼,氢氟

酸挥硅,然后在选定的仪器工作条件下测定使用基体匹配法来校正基体的干扰各元素的

测定检出限为00010054g/mL,相对标准偏差(RSD,n=9)为05%37%经比对

试验证明,本法测定值与其他法测定值相符合

:电感耦合等离子体原子发射光谱法;碳化硅;微量元素

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ayyys1966@163com

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