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- 2023-12-09 发布于四川
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本发明涉及芯片检测技术领域,特别涉及一种电磁场芯片检测装置,包括:底板;调节组件,包括Y轴调节组件和X轴调节组件;所述Y轴调节组件设置2组,分别安装在底板上且相对设置;顶板,所述顶板呈向上弯曲的圆弧形,所述顶板所在的圆弧对应的圆心在顶板下方;所述顶板的两端分别安装在2组Y轴调节组件的顶部;所述X轴调节组件安装在顶板上;检测组件,所述检测组件安装在X轴调节组件上,用于对电磁场芯片进行检测。本发明通过Y轴调节组件调节顶板的上下位置,通过X轴调节组件调节检测组件在顶板的左右位置,如此便于调节检测组件的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117192327A
(43)申请公布日2023.12.08
(21)申请号202310929553.4G01R1/04(2006.01)
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