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本申请提供了一种晶圆测试的数据处理方法、装置、介质和电子设备。本申请首先依据测试目标中任一形状的少量的满足要求的检测点和对应检测点上的测试痕迹生成所述形状的基准信息,然后通过所述形状的基准信息对晶圆中所述形状的所有检测点和测试痕迹进行分析,从中筛选出满足基准信息的检测点信息和测试痕迹信息作为准备数据。其中,生成的基准信息中不仅包括了用于判断检测点的第一长宽比值范围和用于判断测试痕迹的第二长宽比值范围,而且还包括检测点与测试痕迹的位置关系范围。通过各种约束条件中的范围作为分析依据,能够有效避免误判
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117252837A
(43)申请公布日2023.12.19
(21)申请号202311236979.8
(22)申请日2023.09.22
(71)申请人宁波工程学院
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