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本发明公开了一种微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备，所述方法包括：当波控模块接收到上位机发送的测试指令时，从所述测试指令中读取测试状态信息；通过所述波控模块控制被测微波组件基于所述测试状态信息运行；通过矢量网络分析仪对运行中的所述被测微波组件进行扫描，得到所述被测微波组件的测试结果，并向所述上位机发送OPC指令；其中，所述OPC指令用于提示已获取所述被测微波组件的测试结果；当接收到所述上位机发送的结果获取指令时，向所述上位机发送所述测试结果；通过所述上位机对所述测试结果进行分析，得到
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117250574A
(43)申请公布日2023.12.19
(21)申请号202311255742.4
(22)申请日2023.09.27
(71)申请人北京无线电测量研究所
地址10
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