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基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法.pdfVIP

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  • 2023-12-23 发布于四川
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基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法.pdf

    本发明实施例提供一种基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法，属于磁传感芯片测试技术领域。所述装置包括：MCU单元，以及与MCU单元连接的被测芯片多方向单元、芯片电源单元、控制单元和测量单元。所述装置增加了被测磁传感芯片的样本数量，能够为多颗被测磁传感芯片提供不同的测试方向，实现了磁传感芯片的多个不同方向的同时测试，减少了改变磁传感芯片方向的次数以及变换线圈方向的次数，同时减少了测试组件体积，提高了测试的效率和对磁传感芯片性能评估的完整性。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117269716A

    (43)申请公布日2023.12.22

    (21)申请号202310961952.9

    (22)申请日2023.08.01

    (71)申请人北京智芯微电子科技有限公司

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