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本实用新型公开一种同轴光检测装置,其包括载片台、盒体、灯板、导光组件、检测组件和半反半透镜片,载片台形成用于放置工件的放置区;盒体内形成相互连通的光源腔和检测腔,盒体的顶端和底端分别开设有透光口和反光口;灯板设置有多个灯珠;导光组件包括多个排布在灯板上的遮光套筒,遮光套筒包括相对设置的入光端和出光端,出光端开设有出光口,入光端安装于灯板,各灯珠外均罩设有一遮光套筒,遮光套筒的横截面积自入光端向出光端的方向呈渐扩设置;检测组件包括相机和检测单元,相机位于盒体的上方,半反半透镜片设置于检测腔内。本实
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220231499U
(45)授权公告日2023.12.22
(21)申请号202320824385.8
(22)申请日2023.04.06
(73)专利权人矽电半导体设备(深圳)股份有限
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