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第一部分
半导体激光器简介
第二部分
半导体激光器基本工艺
第三部分
半导体激光器光电参数
第四部分
半导体激光器可靠性;3、激光器参数种类
电学参数
阈值电流--Ith
正向电流--IF
正向电压—VF
反向电压—VBR;微分串联电阻—Rs
监视电流—Im
MPD暗电流--I
D;3.2 光学参数
输出功率--Po
峰值波长--λp
光谱半宽—Δλ
边模抑制比—SMSR(仅对DFB LD)
光束半角—θ
消光比—EXT;3.3 热学参数;其它参数
跟踪误差--TE
相对强度噪声--RIN
上升/下降时间—tr/tf
载止频率--fc;参数说明
Ith—阈值电流
定义:在正向电流注入下,LD开始振荡(开始发出激光)时所需要的电流
测量Ith的方法有三:
双斜率法—两条直线延长线交点所对应电流轴的电流
远埸法—用变象管荧屏观察
光谱法—从发射的光谱图上确定Ith;典型P-I/V-I/I-Im曲线
达到阈值时的必要条件;4.2 IF--工作电流
定义:在规定激光器的输出功率下所对应电
流轴的电流值(IF=Ith+ΔI);4.3 VF/Vop--正向导通电压/正向工作电压定义:
在正向驱动电流IF=1mA时所对应X轴交点处的值即为VF
在正向驱动电流IF=Ith+20mA时所对应X轴交点处的
值即为Vop;VF/VOP:正向导通电压/正向工作电压;4.4 VBR/IR--反向击穿电压/反向电流定义:;VBR:反向击穿电压;4.6 RS微分串联电阻(单位:Ω);公式表达式为:;4.7 Im:监视电流(单位:μA)
通过MPD检测到的LD在规定(Ith+20mA)的光输出功率下,在给定的MPD反向电压(Vb=5V)时所检测到的LD背向输出光功率的光电流值
作用:在模块应用中执行自动功率控制(APC)取值:Im=300~800μA;4.8 Id:MPD暗电流(单位为nA)
它是指MPD无光照时,在规定的反向电压(Vb=5V)下所产生的热电流—为暗电流。
暗电流与温度呈线性增加,与足够大的反向偏压无关(即: Vb< VBR情况)。;半导体激光二极管光学参数;4.10 Pth:阈值光输出功率(单位mW)
定义:阈值以下自发辐射的光输出功率定义为阈值光输出功率;4.11 ηd:外微分量子效率(单位:mW/mA)
定义:阈值以上P-I曲线线性段dI/dP之比,它是衡量器件把注入的电子-空穴对转换成向外发射光子(输出功率)的效率。
用公式可表示为:;4.11 ηd:外微分量子效率(单位:mW/mA)
ηi为内微分量子效率;αi为腔体??耗;L为激光器腔长;R为腔体端面反射率;Г为光限制因子;A、B为增益系数;d为有源层厚度。
从式(3)可以看出,要降低Jth就要减小d和增大Г,以及增大L。但是,
我们从图5中可以看出, 要想增大Г则需要增大d。因而, 要同时小和增大Γ是不可能的。同样,增加L可以降低Jth,但是从式(4)可知,增加L不会使ηD降低,因此对结构参数的选择就需要兼顾Jth和d,我们取d=1.0~1.5,L=400~500μm。;ηd:外微分量子效率;4.12 λp / λc/ λmean/Δλ :峰值波长/中心波长/平
均波长/光谱半宽
定义:;注:;F-P腔光谱曲线图;DFB光谱曲线图;λ:LD波长;λc:中心波长;:平均波长
定义:是指所有光谱模式的加权平均值,把幅射度大于峰值2%的模式均计入;Δλ:光谱半宽(Full Width at Half Maximum-FWHM );Sigma σ:光谱半宽(单位:nm)
对于FP LD类产品来说,ITU-T-957建议用最大均方根(RMS)宽度定义为光谱宽度。;θ:光束半宽
θ∥:空间光束平行于LDPN结结平面方向最大强度下降3dB时所对应的全宽度定义为平行发散角
θ⊥:空间光束垂直于LDP-N结结平面方向最大强度下降3dB时所对应的全宽度定义为垂直发散角
用公式表示为:;θ:光束空间远埸结构示意图;4.15 SMSR:边模抑制比(单位:dB)
(仅对于DFB LD而言)
定义:是指在发射光谱中,在规定的输出光功率和规定的调制(或CW)时最高光谱强度与次高光谱强度之比
根据ITU-T-G957要求SMSR≥30dB;SMSR 曲线说明;热学参数
LD热阻:RT(单位:℃ / W)
RT定义为加在器件单位电功率所引起的结温升;从上式可知,只要测量出结温升ΔTj和正向注入电流IF以及正向结压降VF值,就可计算出RT值
对结温升ΔTj的测量,一般有两种方法:
正向压降法
正向压降法,是根据已知的结电压随结温温度变化的关系,测量出结电压的变化来计算结温升。这种方法简单易行,但测量结果误
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