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测试用例生成方法、芯片验证方法、芯片验证系统和介质.pdfVIP

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  • 2023-12-27 发布于四川
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测试用例生成方法、芯片验证方法、芯片验证系统和介质.pdf

    本申请涉及一种测试用例生成方法、芯片验证系统、计算机可读存储介质和计算机程序产品。该测试用例生成方法包括：在仿真时读取目标配置文件中的配置参数以及配置参数值；根据所述配置参数以及配置参数值更新芯片验证系统的内部寄存器的参数值；获取已编译的基础测试用例；基于所述内部寄存器的参数值以及已编译的基础测试用例，生成目标测试用例。采用本方法能够减少编译时长以及测试用例的数量，提高芯片验证效率。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117290209A

    (43)申请公布日2023.12.26

    (21)申请号202311100003.8

    (22)申请日2023.08.29

    (71)申请人格兰菲智能科技（北京）有限公司

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