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本发明提供了一种数字域校正温度传感器的电路优化方法和系统，包括：将负温度系数的电压Vbep和Vben通过开关时序控制，产生对应的负温度系数Vbep电压和正温度系数Dvbe电压输出到Sigam‑DeltADC的核心电路OTA的输入；通过开关采样电路，积分产生Vintx然后输入到比较器CMP，得到最终的ADC输出，再经过数字域反馈回模拟域控制开关逻辑。通过数字域校正，能够智能化的找到不同工艺下最优的温度因子，能够更精准的得到我们想要的比例值，同时减少了模拟域要实现的trim电路，极大的节省了模拟版
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117330209A
(43)申请公布日2024.01.02
(21)申请号202311269261.9
(22)申请日2023.09.27
(71)申请人上海申矽凌微电子科技股份有限公
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